シルバコは本日、半導体製造大手のSTマイクロエレクトロニクスが、アナログ/RF CMOSのプロセスばらつき解析にVariation Managerを採用したと発表しました。
プロセスばらつきは、動作条件全域にわたる製品の信頼性の確保、パラメトリック・イールド(デバイス特性のばらつきに依存する歩留まり)の改善、最高のデバイス性能の獲得を実現する上で、設計時に考慮すべき重要な要素となります。その分析を早期に実行することで、ばらつきの影響による高コストな再設計を避けることが可能となります。 シルバコのVariation Managerは、環境パラメータおよびプロセスばらつきの範囲と影響を詳しく解析する機能を提供し、設計について最適な決定を可能にするとともに、Fast Monte Carlo(高速なモンテカルロ)シミュレーションを提供します。その速度は従来のアプローチよりも最大30倍速く、しかも正確さを犠牲にしません。Variation ManagerのTrue Corners Extraction(正確なコーナー抽出)は、考慮すべき設計マージンを正確に表現するアナログ回路特有の統計的コーナーを特定します。このアプローチは、デジタル回路に基づくグローバルなプロセス・コーナーを使用することから生じる設計不足および過剰な設計を著しく削減します。
「ばらつき考慮設計メソドロジーは、当社の低電圧かつ低消費電力アナログ回路にとって不可欠なものです。」とSTマイクロエレクトロニクスのCAD開発ディレクターであるSalvatore Rinaudo氏は述べています。「徹底した評価の後、当社は重要な機能に着目してVariation Managerを選びました。その機能は、大幅なシミュレーション・コストの削減をもたらす確かな精度と、効率の良いシミュレーション技術によるものです。」
「STマイクロエレクトロニクスはアナログ設計メソドロジーのリーダー企業であり、彼らがVariation Managerを選択したことを光栄に思います。」とシルバコ・フランスのジェネラル・マネージャFiras Mohamedは述べています。「Variation Managerの優れたFast Monte Carlo技術とTrue Corners Extraction機能こそが、設計チームが直面する現在や今後の先端半導体プロセス技術で生じる困難なばらつき問題の解決を支援します。」
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