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Utmost IVによるLeti-NSPモデルを使用したナノシートのモデル抽出フロー

配信開始日:

Leti-NSPは、先進的なマルチゲートMOSFETの革新的モデルです。本モデルは、積層または垂直チャネル・ナノシート/ナノワイヤ、およびFinFETなどの最先端デバイスに対応します。本ウェビナーでは、このモデルに基づいて垂直方向に積層されたナノシートのパラメータを抽出する手法を提示します。抽出フローは、シルバコのモデリング・ソフトウェアであるUtmost IVに実装されています。ここでは、Utmost IVに実装された特徴に注目しながら、抽出フローを段階的に説明します。ビルトイン・モデルに加えてVerilog-Aバージョンのモデルをシルバコの回路シミュレータであるSmartSpiceに実装することにも対応します。

内容:

  • Leti-NSPモデルを使用した垂直方向に積層されたナノシート のモデル・パラメータ抽出
  • Utmost IVに実装されている抽出フローの段階的な説明
  • Leti-NSPモデルのVerilog-Aバージョンとビルトイン・バージョンの比較

プレゼンタ:

Bogdan Tudor博士は、シルバコ、Device Characterization Groupの統括責任者です。R&D、フィールド・オペレーション、モデリング・サービスなど、Device Characterization Groupの活動すべてを取りまとめています。Tudor博士は、EDAおよびSPICEモデリングの分野での15年以上にわたる経験、そしてデバイス・キャラクタライゼーション、コンパクト・モデル開発、MOSFET経年劣化、信頼性解析、ソフトウェア開発の幅広い知識を持ちます。Tudor博士は、ルーマニアのブカレスト工科大学で、電気工学の修士号、マイクロエレクトロニクスの博士号を取得しています。


対象:

ナノシートなど先進的なMOSFETデバイスのSPICEモデリング手法、Verilog-Aベースのモデル抽出、SPICEモデル抽出および最適化にご興味をお持ちのエンジニア、マネージャ、および研究者